FTIR-Spektroskopie zur Bestimmung der optischen Eigenschaften von Halbleitern
Exkurs:
IR-Ellipsometrie
Vortrag:
FTIR & IRSE
Willkommen
Auf den folgenden Seiten finden Sie eine kurze Zusammenfassung meiner Staatsexamensarbeit aus dem Jahr 2000 mit dem Thema:
Die Bestimmung der optischen Eigenschaften von Halbleitern mit der FTIR-Spektroskopie
Im Jahr 1999 hat die Firma Bruker dem Fortgeschrittenpraktikum der
Fakultät für Physik und Geowissenschaften der Universität Leipzig
ein FTIR-Spektrometer Bruker IFS 48 als Dauerleihgabe überlassen.
Ziel meiner Arbeit war es, die Grundlagen für ein neuen Praktikumsversuch
zur FTIR-Spektroskopie an Halbleitern mit dem IFS 48 zu schaffen.
Seit dem Studienjahr 2001/02 können Studenten der Universität Leipzig den Praktikumsversuch
"Fourier-Transform-Infrarot-Spektroskopie an Festkörpern"
im Fortgeschrittenenpraktikum wählen.
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| Inhalt der Arbeit | Inhaltsverzeichnis der wissenschaftlichen Arbeit | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| IR-Spektroskopie | Wellenlängenbereich und Unterteilung des Infrarot-Spektrums, Begriffsbestimmung Infrarot-Spektroskopie. | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| FTIR-Spektroskopie |
Die wesentlichen Schritte der Spektrenberechnung der FTIR-Spektroskopie (Interferogramm, Apodisation, Zerofilling, Fourier-Transformation, Phasenkorrektur) |
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| Spektrometer IFS 48 |
Beschreibung des Aufbaus und der Funktionsweise
des FTIR-Spektrometers Bruker IFS 48 (Detektor, Lichtquelle, Aufbau des Messplatzes, Kenndaten) |
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| Messspektren |
Ausgewählte Messspektren (Leerkanalspektrum, GaAs undotiert und dotiert, GaAsN) |
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| Zusammenfassung | Zusammenfassung der Ergebnisse der Arbeit | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Geschichte | Kurze Geschichte der FTIR-Spektroskopie | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Exkurs: IR-Ellipsometrie |
Spektroskopische Infrarot-Ellipsometrie | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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Vortrag: FTIR & IRSE |
IR-Spektroskopie & IR-Ellipsometrie an Halbleiterschichten: Phononen, Plasmonen und dielektrische Konstanten |
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Ich bedanke mich für Ihr Interesse und würde mich über Anregungen und Hinweise freuen.
| Carsten Bundesmann, 2001 & 2014 | [Zurück zum Seitenanfang] | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||